Hanein, Dorit (Hrsg.)
Cryo-electron Tomography
A Journey from Sample Preparation to Data Mining
Verfügbare Version:
Der Artikel erscheint laut Verlag/Lieferant voraussichtlich am 25. Juli 2025
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Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-443-18830-5 |
|---|---|
| Erscheinungsjahr | 2025 |
| Seitenzahl | 360 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 59633 Kbytes |