Lienig, Jens (Autor)
Rothe, Susann (Autor)
Thiele, Matthias (Autor)
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-031-80023-8 |
|---|---|
| Seitenzahl | 167 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 9175 Kbytes |