Iniewski, Krzysztof (Kris) (Hrsg.)
Cai, Liang (Kevin) (Hrsg.)
Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-031-75653-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 261 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 37082 Kbytes |