Bartsch, Heinz (Autor)
Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung
von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-11-273647-0 |
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Seitenzahl | 96 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 20523 Kbytes |