van Driel, Willem Dirk (Hrsg.)
Pressel, Klaus (Hrsg.)
Soyturk, Mujdat (Hrsg.)
Recent Advances in Microelectronics Reliability
Contributions from the European ECSEL JU project iRel40
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-031-59361-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 403 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 18501 Kbytes |