B. Bernstein, Joseph (Autor)
Reliability Prediction for Microelectronics
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-394-21095-4 |
|---|---|
| Seitenzahl | 400 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 10308 Kbytes |