Mi, Zetian (Hrsg.)
Hoe Tan, Hark (Hrsg.)
Roadmap for Skutterudites and Point Defects in GaN

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-0-323-98934-3 |
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Seitenzahl | 226 S. |
Kopierschutz | Digital Rights Management |
Dateigröße | 20992 Kbytes |