Mi, Zetian (Hrsg.) Hoe Tan, Hark (Hrsg.)

Roadmap for Skutterudites and Point Defects in GaN

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Beschreibung

Produktdetails

ISBN/GTIN 978-0-323-98934-3
Seitenzahl 226 S.
Kopierschutz Digital Rights Management
Dateigröße 20992 Kbytes

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