Gan, Chong Leong, (Autor)
Huang, Chen-Yu, (Autor)
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-031-26708-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 210 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 9343 Kbytes |