Li, Xiaowei (Autor)
Yan, Guihai (Autor)
Liu, Cheng (Autor)
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-19-8551-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 304 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 12235 Kbytes |