Du, Xiong (Autor)
Zhang, Jun (Autor)
Li, Gaoxian (Autor)
Yu, Yaoyi (Autor)
Qian, Cheng (Autor)
Du, Rui (Autor)
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-19-3132-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 172 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 8158 Kbytes |