Mahapatra, Souvik (Hrsg.)
Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-16-6120-4 |
|---|---|
| Seitenzahl | 311 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 17631 Kbytes |