Shockley, Evan (Autor)
Study of Excess Electronic Recoil Events in XENON1T
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-030-87752-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 119 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 8050 Kbytes |