Tran, Kim Phuc (Hrsg.)
Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-030-83819-5 |
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Seitenzahl | 269 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 7013 Kbytes |