Hÿtch, Martin (Hrsg.) Hawkes, Peter W. (Hrsg.)

Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy

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Beschreibung

Produktdetails

ISBN/GTIN 978-0-323-85093-3
Seitenzahl 294 S.
Kopierschutz Digital Rights Management
Dateigröße 32676 Kbytes

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