Cho, Yasuo (Autor)
Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-08-102803-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 256 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 12804 Kbytes |