Lan, Rui (Autor)
Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-15-2217-8 |
|---|---|
| Seitenzahl | 145 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 7722 Kbytes |