Halak, Basel (Hrsg.)
Ageing of Integrated Circuits
Causes, Effects and Mitigation Techniques

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-030-23781-3 |
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Seitenzahl | 228 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 10892 Kbytes |