Halak, Basel (Hrsg.)
Ageing of Integrated Circuits
Causes, Effects and Mitigation Techniques
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-030-23781-3 |
|---|---|
| Seitenzahl | 228 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 10892 Kbytes |