Tan, Sheldon (Autor)
Tahoori, Mehdi (Autor)
Kim, Taeyoung (Autor)
Wang, Shengcheng (Autor)
Sun, Zeyu (Autor)
Kiamehr, Saman (Autor)
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-030-26172-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 460 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 21356 Kbytes |