Celano, Umberto (Hrsg.)
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-030-15612-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 424 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 22841 Kbytes |