Arz, Uwe (Autor)
Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-7369-0378-4 |
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Seitenzahl | 156 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 3125 Kbytes |