Miller, Stephan Erich (Autor)
Methoden zur Defektreduzierung in optoelektronischen Ga1-xInXN-Bauelementen - Epitaxie und Charakterisierung

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-7369-1925-9 |
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Seitenzahl | 178 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 2269 Kbytes |