Luo, Peng (Autor)
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-7369-8906-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 160 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 6624 Kbytes |