Scheffler, Leopold (Autor)
Electrical characterization of transition metals in silicon:
a study on titanium, cobalt, and nickel and their interaction with hydrogen
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-7369-4988-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 100 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 6060 Kbytes |