Ivo, Ponky (Autor)
AlGaN/GaN HEMTs Reliability
Degradation Modes and Analysis
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-7369-4259-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 132 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 6585 Kbytes |