Breitenstein, Otwin (Autor)
Warta, Wilhelm (Autor)
Schubert, Martin C. (Autor)
Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-99825-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 339 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 12826 Kbytes |