Stehr, Jan (Hrsg.) Buyanova, Irina (Hrsg.) Chen, Weimin (Hrsg.)

Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

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Beschreibung

Produktdetails

ISBN/GTIN 978-0-08-102054-8
Seitenzahl 306 S.
Kopierschutz Digital Rights Management
Dateigröße 13517 Kbytes

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