Stehr, Jan (Hrsg.)
Buyanova, Irina (Hrsg.)
Chen, Weimin (Hrsg.)
Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-0-08-102054-8 |
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Seitenzahl | 306 S. |
Kopierschutz | Digital Rights Management |
Dateigröße | 13517 Kbytes |