Stehr, Jan (Hrsg.)
Buyanova, Irina (Hrsg.)
Chen, Weimin (Hrsg.)
Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-08-102054-8 |
|---|---|
| Seitenzahl | 306 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 13517 Kbytes |