Bastard, G. (Hrsg.)
Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-444-59672-7 |
|---|---|
| Seitenzahl | 554 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 102820 Kbytes |