Jayanthy, S. (Autor)
Bhuvaneswari, M. C. (Autor)
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-13-2493-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 156 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 2989 Kbytes |