Sadewasser, Sascha (Hrsg.)
Glatzel, Thilo (Hrsg.)
Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-75687-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 530 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 28430 Kbytes |