Decher, Leo (Autor)
Der Flynn-Effekt. Möglichkeiten zur Messung von Intelligenz und deren Schwächen
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-668-55949-3 |
|---|---|
| Seitenzahl | 15 S. |
| Kopierschutz | ohne Kopierschutz |
| Dateigröße | 2787 Kbytes |