Brodusch, Nicolas (Autor)
Demers, Hendrix (Autor)
Gauvin, Raynald (Autor)
Field Emission Scanning Electron Microscopy
New Perspectives for Materials Characterization
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-981-10-4433-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 143 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |