Kim, Choong-Un (Hrsg.)
Electromigration in Thin Films and Electronic Devices
Materials and Reliability
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-85709-375-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 360 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 6661 Kbytes |