Tanner, B. K. (Autor)
X-Ray Diffraction Topography
International Series in the Science of the Solid State
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4831-8768-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 188 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 31596 Kbytes |