Ohring, Milton (Autor)
Kasprzak, Lucian (Autor)
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-08-057552-0 |
|---|---|
| Seitenzahl | 758 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 35697 Kbytes |