Head, A.K. (Autor)
Computed Electron Micrographs And Defect Identification
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-444-60147-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 410 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 57053 Kbytes |