Takeda, Eiji (Autor)
Yang, Cary Y. (Autor)
Miura-Hamada, Akemi (Autor)
Hot-Carrier Effects in MOS Devices
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-08-092622-3 |
|---|---|
| Seitenzahl | 312 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 8780 Kbytes |