Zalevsky, Zeev (Autor)
Livshits, Pavel (Autor)
Gur, Eran (Autor)
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-0-12-800017-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 110 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 2870 Kbytes |