Veselý, Jozef (Autor)
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-319-48302-3 |
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Seitenzahl | 112 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 9470 Kbytes |