Yen, Wei (Autor)
From the Great Wall to Wall Street
A Cross-Cultural Look at Leadership and Management in China and the US

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-319-33008-2 |
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Seitenzahl | 291 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 5103 Kbytes |