Schmidt, Olaf (Autor)
Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-656-99970-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 89 S. |
| Kopierschutz | ohne Kopierschutz |
| Dateigröße | 5053 Kbytes |