Borja, Juan Pablo (Autor)
Lu, Toh-Ming (Autor)
Plawsky, Joel (Autor)
Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
Time Dependent Failure Mechanisms
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-43220-5 |
|---|---|
| Seitenzahl | 109 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 4243 Kbytes |