Kupke, Steve (Autor)
Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-7412-1228-4 |
|---|---|
| Seitenzahl | 124 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 10892 Kbytes |