Mahapatra, Souvik (Hrsg.)
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-81-322-2508-9 |
|---|---|
| Seitenzahl | 269 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 21252 Kbytes |