Voigtländer, Bert (Autor)
Scanning Probe Microscopy
Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-662-45240-0 |
|---|---|
| Seitenzahl | 382 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 14492 Kbytes |