Im, Seongil (Autor)
Chang, Youn-Gyoung (Autor)
Kim, Jae Hoon (Autor)
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the traps in field-effect transistors
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-94-007-6392-0 |
|---|---|
| Seitenzahl | 101 S. |
| Kopierschutz | Digital Rights Management |
| Dateigröße | 6109 Kbytes |