Noia, Brandon (Autor)
Chakrabarty, Krishnendu (Autor)
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-02378-6 |
|---|---|
| Seitenzahl | 245 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 6809 Kbytes |