Jäger, Christian (Autor)
Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-8324-1184-8 |
|---|---|
| Seitenzahl | 103 S. |
| Kopierschutz | ohne Kopierschutz |
| Dateigröße | 10107 Kbytes |