Liu, Xiao (Autor)
Xu, Qiang (Autor)
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-00533-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 108 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 3381 Kbytes |