Schooten, Kipp van (Autor)
Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-319-00590-4 |
|---|---|
| Seitenzahl | 90 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 2376 Kbytes |