Klapetek, Petr (Hrsg.)

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy

SPM Applications for Nanometrology

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Beschreibung

Produktdetails

ISBN/GTIN 978-1-4557-3059-9
Seitenzahl 336 S.
Kopierschutz Digital Rights Management
Dateigröße 5076 Kbytes

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